电子设备用固定电阻器详细规范RI40型玻璃釉膜低功率固定电阻器评定水平E_SJT2867-2022.docx

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1、ICS31.040.101.13中华人民共和国电子行业标准SJ28672022代替SJ/T28671988电子设备用固定电阻器详细规范RI40型玻璃釉膜低功率固定电阻器评定水平EDetailspecificationforxedresistorsforuseinelectronicequipment-TypeRI40low-powerglazed-glassfilmfixedresistors一AssessmentlevelE2022-10-20 发布2023-01-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布前言1一般数据11111234推荐的安装方法.尺寸、额定值和特性规范性引用文件.K志II

2、I11133放行批证明记录jzz附加内容（不必绘J对总规范和/阉而言，增加或提高的.2.1鉴定2.2质量附录A（规，3444449微绕固定电阻器RI40型玻璃釉膜8版，1.3）；修牛（见表2,表2）：布机制a旦识别专:技有限公瑞驰新能源有;王晓磊、张凤波、张亚倩、林宏松、刘录丰.观废止的文件的历史版本发布情况：1988年首次划i老化i无铅孔1乘A鉴定文些内容用f攵专利子设行:北京家标准或行,1988版，外形图）；1, 1988版，表 D ；1.2.1)；W 1988版,版，版2）(见表2, 19a) b) c) d) e) f) g) h)i)IA-刖三本文件按照GB/TL12020标准化工作

3、导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。本文件与GB57292003电子设备用固定电阻器第1部分：总规范、GB/T57301985电子设备用固定电阻器第二部分：分规范：低功率非线绕固定电阻器、GB/T5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分：空白详细规范：低功率非线绕固定电阻器评定水平E共同构成对本产品的要求。本文件代替SJ/T286719固定电阻器评定水平E引用文件中电阻器引增加引增加请注本文本文限公司。本文件本文件及IIl电子设备用固定电阻器详细规范R140型玻璃釉膜低功率固定电阻器评定水平ESJfF 28672012中华人民共和国工业和信息化部按GB/T57292003

4、电子设备用固定电阻器外形尺寸.率非线绕固定电阻器GB/T57311985IEC6011521：19821.1 推荐的安装方法电阻器用其引出线安装固定。在振动试验中，电阻器主体与安装点之间的距因应为6mmlmm。1.2 尺寸、额定值和特性1.2.1 尺寸和额定值尺寸和额定值按表1规定。表1尺寸和额定值品种70QC下的额定功耗W电阻温度系数IO6ZK阻值范围Q元件极限电压（直流或交流有效值）V绝缘电压（直流或交流峰值）V坡大尺寸nm最小尺寸mmdLDhhAA0.25100100k10M3505007.02.52.5150.500.05AB250AC500BA0.5100100k-32M500750

5、10.53.90.600.05BB250BC500CA1100100k56M700100014.05.5CB250CC500DA2100100k100M700100017.06.50.800.05DB250DC+500阻值范围”：按表1规定。标称阻值允许偏差：G：2%,J：5%,K：10%,.气候类别：-5512556o低气压：8.5kPa(85mbar)。秘定度等级：5%.阻值变化极限值：长期试验：(5%R+0.1)：短期试验：士(l%R+0.05)。12.2降功耗电阻器按图1曲线降功耗。(*)衰余口泯存置图1降功耗曲线1优先值为GB“24711995电阻器和电容38优先数系的E24系列.1

6、.3 规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件。不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件.GBZT2423.28-2005电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验T：锡焊GB/T24711995电阻器和电容器优先数系GB/T2828.1-2012计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划GB“57292003电子设备用固定电阻器第1部分：总规范GBAT5730-1985电子设备用固定电阻器第2部分：分规范：低功率非线绕固定电阻器GB/T5731-1985

7、电子设备用固定电阻器第2部分：空白详细规范：低功率非线绕固定电阻器评定水平EIEC60068-2-20：2008环境试验第2部分：试验-试验T：带导线装置的可焊性和耐焊接热的试验方法（EnVironmentaltesting-Part2-20:Tests-Tests:Testmethodsforsolderabilityandresistancetosolderingheatofdeviceswithleads）1.4 标志1.4.1 电阻器电阻器上应标志以下内容：a）标称阻值；b）标称阻值允许偏差。1.4.2 电阻器包装电阻器包装上应标志以下内容：a）标称阻值；b）标称阻值允许偏差；c）品种

8、代号；d）制造年、月（或周）；e）详细规范编号；f）制造厂名称和商标；g）包装内的数量；h）包装人员的姓名或代号；i）检验部门印章。1.5 订货资料订购本文件电阻器的订单应该用一般文字或代码形式列出下述最少内容：a）标称阻值；b）标称阻值允许偏差；c）本详细规范编号和年代号以及品种代号（要求袋式包装时，亦应注明）.1.6 放行批证明记录根据订购方的要求提供.1.7 附加内容（不检验）无。1.8 对总规范和（或）分规范规定而言，增加或提高的严酷度和要求增加无铅引线电阻器可焊性试验。2检验要求2.1鉴定检验定。2.2合格范围的扩展应符合附录A的规等级和要求。GB/T验一览表-逐合1.4规定无击穿或

9、飞弧按表】规定按 4. 5. 2方法：V形块法施加交流电压其峰位为绝缘电压值的1.42倍对于鉴定批准，其程序应按G质量一致性检验对于质量一：57301985的 3./章条号A组检验（Al分组4. 4.1外观A2分组4.4.2尺寸（量规检验）4.5阻值B组检验（逐批）Bl分组4. 7耐电压章条号和试验项目，D或NDb试验条件,ILeAQLe性能要求,B2分组4.17适用于SnPb镀层引线的可焊性D老化条件：1a（Ih蒸汽老化）方法：GBf2423.282005试验Ta,方法1（焊槽法）槽温：235oC5oC浸入时间：2,0s0.5s浸入深度：距元件主体2.OoosmmS-32.5%被浸渍部分，至

10、少有95%的面积上覆蛊上一层连续、均匀、光滑、明亮的新焊料层或4.17适用于无铅镀层引线的可焊性4.13过载老化条件：不老化方法：IEC60068-2-20：2008试验Ta：方法1（焊植法）槽温：250P3oC浸入深度：距元件主体2.0%,5mm浸入时间：3.0s0.3s被浸溃部分，至少有95%的面积上覆盖上一层连续、均匀、光滑、明亮的新焊料层D额定功耗为0.25W、0.5W的电阻器，试验持续时间为5s额定功耗为1W、2W的电阻器，试验持续时间为K）S施加电压应为2.5倍额定电压或2倍元件极限电压（取较低者）外观检查阻值无可见损伤，标志清楚（l%0.05）要求干燥时，应采用GB/T5729-

11、2003中4.3的程序I,除了阻值变化要求应从GB/T57301985的表1和表2相应地选定之外，试验项目和性能要求的章条号引自GBf57292003.b表中：D表示破坏性的，ND表示非破坏性的.C检查水平（IL）和合格质量水平（AQL）选自GB/T2828.12012.表3质量一致性检验一览表一周期检验样品大小和合格判定数CPnC章条号和试验项目D或NDb试验条件,样品大小和合格判定数C性能要求PDCCI分组（CIA和ClB分组样乱合在一起）4.23气候顺序干热-循环湿热，试验Db,第一个循环寒冷低气压-循环湿热，试验Db,其余的循环直流负荷D8.5kPa（85mbar）外观检宜阻值绝缘电阻

12、3201无可见损伤(5%f+0.1Q)100MQC2分组4.25.1701C耐久性D持续时间：1OOOh在48h、50Oh和1Oooh时检外观检我阻值在1OoOh时检者绝缘电阻3201无可见损伤ARW上（5%加0.1Q）R21GQC3分组4.8阻值随温度变化ND-55/2020/12532010：100X10VK250107K、50010Ka：10010Kx25010K.50010,KD组检验（周期）DI分组4.24稳态湿热D按4.24.2.2第1组：10只样品第2组：10只样品外观检查阻值绝缘电阻12201无可见损伤，标志清楚ARW（5%R+0.1Q）R2100MQ章条号和试验项目D或NDb试验条件，样品大小和合格判定数C性能要求D2分组4.4.3尺寸（详细的）4.25.3上限类别温度耐久性按表1规定Dg持续时间：1OOOh在48h、50Oh和1Oooh时痣DLY如E丽检查:篇电阻要求干燥时/周部哪T57您除了/表2相应地选定之4期无可见损伤&RW(5%f+0.1Q)GBjb研C表城5*2乎3监y奉坏性的、（存I期，单彳瞥格判定电=W=I项目和阵里的Pt条号引自F不合格品LNINDA谷ZZ