2024年MSA理论知识考核试题及答案.docx

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1、MSA理论知识考核一.单选题1测量系统的变差来源可能是：（）单选题*A、标准或工件B、仪器或环境温度C、测量人员或程序D、全部2对测量过程研究的目的：（）单选题*A、研究对过程决策的影响B、研究对产品决策影响C、研究测量系统的能力D、全部3测量系统的变差可能对哪些决策产能影响:（）单选题*A、产品接收B、过程调整C、生产启动的验证D、全部4测量时发现工件接近了规范极限，则要：（）单选题*A、对准过程目标，马上调整B、以上次测量的结果为目标进行调整C、向偏离目标相反的方向进行调整D、除非过程不稳定，否则不调。5可靠的GR&R接受准则是：（）单选题*A、10%B、20%C、30%D、视情而定。6分

2、辨力是指（）单选题*A、也叫解析度B、是仪器上的最小刻度C、有时，可以用最小刻度的一半表示D、全部7下列描述正确的是（）单选题*A、购买了最先进的测量技术或设备便可以对过程作出正确的决策B、应用于对测量系统分析的过程样件要能代表过程范围WC、测量系统的研究可以暂不关注成本因素D、全错8测量系统应（）单选题*A、在使用前或定期校准B、建立相应的校准方法C、被维护D、全对9对测量生命周期理解恰当的是：（）单选题*A、测量方法一旦被确定就不能更改B、能产生计量型数据的测量就不能用计数型数据替代C、取决于对过程的理解，对过程理解越深，测量或监视的方法越简单VD、量具的使用寿命10对测量的计划阶段”描述

3、正确的是：（）单选题*A、在伊可情况下，经验就是指导方针B、经验对测量系统的策划是没有帮助的C、所有产品和过程特性都使用复杂的方法来开发测量系统，如：简单量具D、全错11通过测量诞生的数据类型可以是：（）单选题*A、一定是计数型B、一定是计量型的C、可能是计数性，也可能是计量型VDs全对12对真值理解正确的是：（）单选题*A、通过测量可以准确的得到B、采取统计的方法可以准确的得到C、只有在实验室里才能得到D、不可能得到13对一个标准件进行多次测量计算出的平均值和在实验室确定的参考值有偏差，则偏差叫：（）单选题*A、偏倚B、飘移C、一致性D全错14稳定性（）单选题*A、和量程有关B、和时间无关C

4、、和偏移有关VD、全错15线性（）单选题*A、和量程有关B、和时间有关C、和偏移无关D、全错16重复性（）单选题*A、是系统间变差B、可以理解为设备变差VC、可以理解为测量人员变差D、全部17再现性（）单选题*A、是系统间变差B、是系统内变差C、是设备变差D、是和时间有关的变差18关于“极限样件描述正确的：（）单选题*A、 .极限样件可以作为校准计数型测量系统的标准B、 .极限样件应取自于第二区C、 .极限样件的制定应由具备资格的人员完成，并对其建立管理数据。D、 .全对19误报警指：（）单选题*A、把合格判定成不合格B、把不合格判定成合格C、把不合格判定成不合格D、全错20计数型测量系统分析

5、-交叉表法中的KAPPA大于多少,可以认为一致性可以接受：（）单选题*A、0.5B、0.6C、0.7D、0.7521 .MSA主要目的是分析测量系统的变差以及测量系统相对与产品规范或过程变差的可接受程度。对V22 .再现性是系统间变差。对V错23 .重复性是系统内变差。对V错24根据IATF16949标准总的要求控制计划中的每一套测量系统都必须实施测量系统分析。对错V25 .MSA关注的优先级为测量特殊产品特性或特殊过程特性的测量系统。对V错26 .测量器具的磨耗可以引起其精密度变差，对精确度为影响。对错V27 .在采购测量仪器的的技术协议中，应该注明测量仪器的验收准则等。对V错28 .计数型

6、数据对应的分布函数是连续函数，可以被分成无限小增量。对29 .计量型数据对应的分布函数是离散函数。对错V30 .在测量系统用来对过程进行监视分析时，十分之一原则指测量系统的分辨力应为产品公差的l10o对错V31 .表征精密度的统计量可以是标准差，极差。对V错32 .表征准确度的统计量可以是均值，中位数。对V错33 .在实施测量系统分析时，测量工程师要在分析现场做好观察，并记录/修正测量过程中可能存在的影响测量的各类变化，以便启动改进措施，减少测量系统变差的存在。对V错34 .在实施测量系统分析，需要考虑顾客的特定要求，如：某些顾客要求测量Cg/Cgk,必须满足顾客要求。对V错35 .测量系统分

7、析仅仅发生在对新产品项目或新过程的初始研究阶段，生产启动后，没有必要再实施研究了。对错V36 .以“目视为主的检测，由于没有测量仪器，所以不存在重复性。对错V37 .在实施测量系统分析时，在得到顾客许可的情况下，工厂可以开发并使用自己的分析方法。对V错38 .在实施测量系统分析时，建立标准物质是实施分析的基本事项之一，一旦建立可重复测量的“标准物质，则测量系统各变差分析将变得可行。对V错39测量系统的构成要素可以归纳为SWIPEf即：标准/被测工件/仪器/测量者/测量方法环境。对V错40.一套相对一个过程可以接收的测量系统,可能相对另一个过程会变得不可接收。对V二、填空题1.测量系统的稳定性是

8、表示测量系统随（）的偏倚值。答案：时间。2 .测量系统的线性是标识在量具正常（使用范围）内的（答案：偏倚变化量。3 .测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。答案：重复性。4 .测量系统的（）通常被称为评价人的变差。答案：再现性。5 .测量系统应处于状态意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由_成，而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性,并且可以通过去最佳地进行评价。空1答案：统计受控空2答案：普通原因空3答案：控制图。6 .测量系统是用来对被测特性或一的仪器或量具、夹具、软件、_环境和假设的集合。空1答案：定量测量空2答案：定性评价空3答案：标准空4答案：操作空5答案：

9、方法空6答案：人员。7 .测量过程的分别有五个输入要素，输出则为空1答案：操作者空2答案：器具空3答案：产品空4答案：测量方法空5答案：环境空6答案：测量值。8 .数据的类型分为数据和数据。空1答案：计量型空2答案：计数型。9 .MSA评审的二个阶段分别为阶囹口阶段填空题*空1答案：分析空2答案：改进。10线性是测量系统预期操作范围内()误差值的差别。答案：偏倚。IL如果一个测量系统用于过程控制，其变异性通常与进行比较，如果用于产品检验，其变异性通常与进行比较。空1答案：变差空2答案：公差。12 .测量数据的用途之一是用于分析生产过程，判断生产过程是否()。答案：统计稳定。13 .进行测量系统

10、分析时应给样品标上()，否则，会带入零件内变差(如锥度、圆度的影响I答案：测量位置。14 .分辨力又称最小(),它是量具设计的一个固有特性，并作为测量或分级的单位被报告。答案：读数单位。16.偏倚是指测量的观测平均值(在可重复条件下的一组试验)和()之间的差值。答案：基准值。测验1 .以下哪种原因可能导致测量结果的误差多选题*A、仪器和夹具间的差异B、使用人员的差异，C、环境所造成的差异VD、使用方法所造成差异V2 .位置误差通常是通过分析来确认多选题*A、偏倚B、重复性C、稳定性D、再现性E、线性3 .以下描述错误的是单选题*A、零件的真值永远无法得到，只能无限与之接近B、数显卡尺的准确度是

11、002mmC、产品控制理论关注的是零件是否在指定的范围内D、过程控制理论关注的是过程变差是否稳定并可接受4 .以下公式错误的是单选题*A、测量误差=测量值-真值（或约定真值）B、TV（总变差）2=EV（测量设备的变差）2+PV（零件的变差）2C、GRR（测量系统变差）2=EV（测量设备的变差）2+AV（评价人的变差）2D、ndc（区别分类数）=1.41*（PV/GRR生产开始初期5 .测量仪器分辨力的第一准则应该至少是单选题*A、公差的1/5B、公差的11OC、过程变差的1/5D、过程变差的1/106 .R&R=单选题*A、EV+AVB、EV2+AV2C、EV2+AVD、（EV+AV）27 .

12、偏倚分析结果可否与以下因素相关多选题*A、标准值（参考值）B、实测值平均值C、实测值标准差VD、测量特性的公差8 .破坏性测量系统的分析可通过稳定过程的大量取样来进行，其原理，其中若控制图出现失控，说明单选题*A、过程不稳定B、测量系统异常C、过程和测量系统均异常D、过程和测量系统均正常9 .Cgk分析结果与以下哪些因素呈反比例关系多选题*A、I偏倚B、实测值平均值C、实测值标准差VD、测量特性的公差10 .计数型量具研究，下列错误的是单选题*A、可分为小样法和大样法B、4推法一般以选取二位评价人员C、小样法每人测量1个零件2次，其二次测量值无须相同D、小样法通常选取20个零件11 .重复性是由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。对V错12 .测量系统的稳定性是表示测量系统随时间的变化。对V错13 .对GR&R分析结果，不需要计算数据分级数。对错V14 .统计稳定性是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。对V错15 .测量系统分析的目的是要获得测量对象的真值。对16 .测量系统分析的样品必须是选自于过程并且代表整个的生产的范围。对V错17 .MSA必须针对控制计划中提及的所有测量系统。对V错18 .做MSA分析之前量具应检定合格。对V错19 .线性分析时不需要确定基准值（或标准值I对错V20 .稳定性分析时可以确定基准值（或标准值I对V错。