团标《光伏封装胶膜表面粗糙度测试方法》.docx

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1、CCSL90ICS31-030团体准T/CPIAXXXX-202X光伏封装胶膜表面粗糙度测试方法TestmethodforsurfaceroughnessofphotovoltaicencapsuIantionfiIm（报批稿）在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。XXXX -XX-XX 发布XXXX-XX-XX实施中国光伏行业协会发布光伏封装胶膜表面粗糙度测试方法1范围本文件规定了光伏封装胶膜表面粗糙度测试方法的仪器设备、试样制备、测试步骤、结果处理以及测试报告。本文件适用于光伏组件封装胶膜的表面粗糙度测试。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本

2、文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版木（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T1031产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法表面粗糙度参数及其数值GB/T3505产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法术语、定义及表面结构参数GB/T10610-2009产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法3术语和定义GB/T3505界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1轮廓算术平均偏差arithmeticalmeandeviationofprofiIeRa表征取样范围内纵向凹凸偏差的整体平均水平值。注：类

3、似于平均值的概念。3.2轮廓最大高度maximumheightofprofiIeRz表征取样范围内纵向波峰和波谷间距的最大值。注：类似于极差的概念。3.3轮廓单元的平均宽度meanwidthoftheprofiIeeIementsRsm表征取样范围内横向波峰波谷间距的平均值。4仪器设备粗糙度测试仪：量程要求达到360m,粗糙度测试仪准确度0.02m,从整卷密封胶膜样品中取胶膜整宽幅Xl（X）Cm大小的胶膜样品，样品需保持平整不能有褶皱；样品表面花纹清晰，不能有表面划痕、气孔、杂质、凸起等影响测量结果的缺陷或者测量时避开此类缺陷。6测试步骤提前将测试环境设置在温度23C2C,湿度50%5%条件下

4、，保持粗糙度测试仪使用前需进行校准，采用仪器自带的粗糙度标准样板和校准要求，测量示值误差应满足设备出厂技术标准要求，确保测量数据的精确性。按照GB/T106102009设置粗糙度测试仪截止波长2.5mm,即粗糙度取样长度2.5mm,粗糙度测量长度12.5mmo把需要测量的胶膜，组件层压时与玻璃接触的面朝上，平铺在平整的桌面上。以大理石或其他没有弹性的桌面最佳。按照胶膜宽幅方向（TD）等距离的取5个点作为测量点（图1中剪到as）,同时在胶膜长度方向（MD）间隔50Cm再取5个点（图1中瓦到bs）,分别标定位置，为确认胶膜粗糙度在长度方向保持稳定，可在MD方向间隔一定距离追加测试组，见图1。*三l

5、aSa1MDA50cm一4,b,blb6,TD注：箭头方向为测量时探针移动方向。图1取点示意图把粗糙度测试仪的探针放置在测量点上，仪器按照图1中箭头所示方向分别沿TD和MD方向放置，确保探针能够按照箭头方向移动方向。按开始键进行测量,其中每一个起始测量点用粗糙度测试仪沿胶膜TD和MD方向分别测试一次，每一个测量点沿TD和MD平移的粗糙度数值即仪器显示的Ra、Rz、Rsm结果，数值统一修约到个位数，记录整数。光伏封装胶膜表面粗糙度参考值参照附录Ao7测试结果处理7.1 第一组测量点，按a到as依次记录MD和TD测试结果Ra、Rz、RSnI共10组数据，计算每组数据Ra、Rz、RSm的最大值、最小

6、值和中值。第二组b到bs按照同样的顺序进行记录并计算Ra、Rz、RSnI的最大值、最小值和中值。7.2 依次类推，按照每组数据Ra的中值进行判定。8报告除非另有规定，报告应包括下述内容：a）试验依据标准；b）样品全称；c）样品数量；d）样品照片；e）样品来源和制造商；f）试验日期；g）试验结果；h）试验过程中的环境条件;i）主要测试设备；j）检测人；k）报告批准人；1）其他任何重要信息。附录A（资料性）光伏封装胶膜表面粗糙度参考值光伏封装胶膜表面粗糙度标准应根据实际使用过程需要进行材料匹配性测试确定。不同花纹类型胶膜其粗糙度标准不同，对于最常规的无规则花纹胶膜，推荐的以下表面粗糙度参考值。参见表A.1。注1：Ra是轮廓凹凸平均值，即花纹深度，对胶膜使用的影响是Ra值大，胶膜和玻璃之间有利于排气，铺设贴合度更好，抗滑移能力更好。注2：RZ是轮廓波峰波谷最大值，数值大，和Ra有同样趋势。注3：RSm是轮廓单元平均宽度，单纯RSm大小对胶膜使用无直接影响。表A.1光伏封装胶膜表面粗糙度参考值Ra/UmRz/umRsm/m15/