阵列感应资料处理培训.ppt

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1、MIT5530阵列感应测井仪培训阵列感应测井仪培训12345阵列感应（MIT5530）仪器67电源带通滤波前置放大线圈系压力平衡发射驱动数据采集处理与控制阵列感应（MIT5530）配套100KBPS遥测处理软件刻度装置1.1 MIT5530阵列感应仪器总体组成阵列感应仪器总体组成MIT5530阵列感应仪器线圈系结构阵列感应仪器线圈系结构1.2 MIT5530阵列感应线圈系结构阵列感应线圈系结构1.2 MIT5530阵列感应线圈系结构阵列感应线圈系结构MIT5530原始测量信号原始测量信号1.3 MIT5530阵列感应测量信号阵列感应测量信号1.3 MIT阵列感应响应特性阵列感应响应特性0123

2、45-0.50.00.51.01.52.02.53.03.54.04.5 RGF (1/m)(m)子 阵列1 子 阵列2 子 阵列3 子 阵列4 子 阵列5 子 阵列6 子 阵列7 子 阵列8012345-0.10.00.10.20.30.40.50.60.70.80.91.0 IRGFR (m)子 阵列1 子 阵列2 子 阵列3 子 阵列4 子 阵列5 子 阵列6 子 阵列7 子 阵列8-5-4-3-2-1012345-0.50.00.51.01.52.02.53.03.54.0 VGF (1/m)z (m)子 阵列1 子 阵列2 子 阵列3 子 阵列4 子 阵列5 子 阵列6 子 阵列7

3、子 阵列81.4 MIT5530阵列感应技术指标阵列感应技术指标1.5 MIT5530阵列感应仪器适应范围阵列感应仪器适应范围MIT55305530短阵列测量误差较大nMIT55305530最佳工作范围：Rt 在0.2-100m，Rt/Rm应在白色区域内。nMIT5530阵列感应仪器适用最佳井眼条件：钻头直径在6”（150cm）-12”(300cm)，当井眼尺寸大于12”时，合成的误差可能较大。MIT55305530所有阵列测量误差较大n测量信息多测量信息多1.6 MIT5530阵列感应仪器优点阵列感应仪器优点v监控曲线监控曲线QCQC判定判定v测井曲线合理性判定测井曲线合理性判定 QCQC曲

4、线判定：曲线判定：MIT5530MIT5530仪器质量监控曲线仪器质量监控曲线QCQC数值变化范围应小于数值变化范围应小于1010。且。且QCQC曲线无突变。否则需重新加电测井曲线无突变。否则需重新加电测井。原始曲线合理性判定：原始曲线合理性判定：MIT5530MIT5530原始曲线在典型地层情况下应符合理论响应。其典型原始曲线在典型地层情况下应符合理论响应。其典型地层主要有：均质地层响应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低地层主要有：均质地层响应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低侵厚层情况下理论响应。在判断原始曲线关系时，应选择典型厚侵厚层情况下理论响应。在判断原始曲线关系时，应选择典型厚层进行曲

5、线关系分析，如果与理论图版相符，即仪器工作状态正层进行曲线关系分析，如果与理论图版相符，即仪器工作状态正常。常。0.010.11101000.010.1110100地层电导率（S/m）视电导率（S/m）.A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfLMIT5530均质地层响应MIT5530常见问题：原始曲线缺失字符未安装间隔器仪器预热不足刻度文件加载错误测井遇卡硬件故障3.1 MIT5530阵列感应曲线命名规范3.2 MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试3.2 MIT5530阵列感应不同扶正

6、器对短阵列影响 MIT5530测井影响因素:温度影响温度影响 井眼影响井眼影响 趋肤效应趋肤效应 围岩影响围岩影响4.1 4.1 温度影响温度影响4.2 趋肤效应影响趋肤效应影响0.010.11101000.010.1110100地层电导率（S/m）视电导率（S/m）.A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfLn井眼信号是下面因素的函数:n泥浆电导率Rmn井眼大小和形状n井中偏心距n地层电导率u解决措施：井眼校正偏心度偏心度d dh h井眼直径井眼直径R RF FMudMudR RM M4.

7、3 4.3 井眼影响井眼影响nMIT5530测量信号会收到上下围岩的影响。u解决措施：真分辨率聚焦及分辨率匹配4.4 4.4 围岩影响围岩影响深度深度=0.25m,=0.25m,分辨率分辨率=0.3m=0.3m深度深度=0.50m,=0.50m,分辨率分辨率=0.6m=0.6m深度深度=0.75m,=0.75m,分辨率分辨率=1.2m=1.2m深度深度=1.5m,=1.5m,分辨率分辨率=1.5m=1.5m深度深度=2.25,=2.25,分辨率分辨率=1.8m=1.8m4.5 MIT5530预处理预处理4.6 MIT5530井眼校正井眼校正n合成处理 4.7 MIT5530合成处理合成处理n真

8、分辨率聚焦 n分辨率匹配 n反演 4.8 MIT5530反演反演处理环节质量控制处理环节质量控制 处理环节质量控制主要是判定处理过程中参数选取是否合适，井段的选择应以井眼相对规则的大段泥岩段作为判断点，结合渗透层曲线进行综合判断；处理效果可以通过井眼校正曲线和真分辨率聚焦曲线来综合判定。图20（正演模拟无侵地层）合格的处理效果 图21（正演模拟无侵地层）过校正效果图（正演模拟无侵地层）欠校正效果图（吉林红井）合格的处理效果（吉林红井）过欠校正处理效果 在井眼相对规则的大段泥岩段，合格的井眼校正曲线经在井眼相对规则的大段泥岩段，合格的井眼校正曲线经过真分辨率聚焦，其聚焦曲线关系应与其分辨率关系相

9、一致。过真分辨率聚焦，其聚焦曲线关系应与其分辨率关系相一致。即合成浅探测曲线分辨率高，合成深探测分辨率低。在非渗即合成浅探测曲线分辨率高，合成深探测分辨率低。在非渗透层即出现短阵列在长阵列左右摆动的现象。这是由于其分透层即出现短阵列在长阵列左右摆动的现象。这是由于其分辨率差异导致。辨率差异导致。井眼相对规则的大段泥岩段，井眼校正过校正或欠校井眼相对规则的大段泥岩段，井眼校正过校正或欠校正则在其合成曲线中会出现短阵列在长阵列左侧或右侧的现正则在其合成曲线中会出现短阵列在长阵列左侧或右侧的现象。此现象为校正不当，需要适当调整处理参数。象。此现象为校正不当，需要适当调整处理参数。MIT5530匹配曲线关系：匹配曲线关系：MIT5530匹配曲线在在典型渗透层（低阻环带除外）情况下应满足：当Rmf Rw 时：AX10=AX20=AX30=AX60 Rw时：AX10=AX20=AX30=AX60=AX90在非渗透层MIT5530匹配曲线应相对重合(100)纵向分辨率适用情况纵向分辨率适用情况MIT5530阵列感应模拟井处理地层：5欧姆米围岩：20欧姆米泥浆：1.5欧姆米井径：8in阵列感应新杨井综合解释图