COG与FOG本压效果检验规范.docx

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1、1.目的规范公司COG与FOG本压检验判定标准，保证产品满足客户品质要求。2 .范围适用于公司所有产品COG与FOG本压效果检验判定和来料检验标准。3 .职责工程部：负责本标准制定与更新。品质部：依照此标准对产线COG与FOG本压工序进行产品效果检验和判定。生产部：依照此标准对CoG与FoG本压效果进行检验和判定。4 .定义N/A5.内容1.X方向及Y方向偏移量不可超过ITO或BUMP宽度(长度)之1/3；2.COG本压本压偏位状况量产过程中，偏位达到1/3时设备必须调机改善，防止偏位超1/3造XY偏移方向定义1.2.本压汽泡3.邦定区四周汽泡有黑边且未覆盖邦定区OK邦定区四周汽泡无黑边(呈白

2、雾状)NG；本压后IC邦定区周围或邦定区上出现彩虹状NG；4.邦定区内汽泡25%NG邦定区内汽泡W5%OKMIC脚偏位触及右边ITO走线(NG)IC与ITO邦定位重合度NO%OK有黑边汽泡(OK)BONDlNG彩虹(NG)本压异物1. IC邦定区内有异物NG；2. 本压后异物顶伤IToNG；3. IC破损，裂纹。NGBUMP刮伤1. IC脚刮伤面积未超过1/3面积且未刮伤部位有效导电粒子破裂颗数5颗为良品0K；2. IC脚刮伤面积超过1/3面积或未刮伤部位有效导电粒子破裂颗数V5颗为不良品NG；异物顶伤ITO(NG)邦定区外呈白雾状汽泡(NG)OKNGOKCOITO刮伤LlC本压区ITO刮断位

3、置小于1/2ITo长且有效导电粒子W颗为OK,反之NG；GLCD任何位置ITO腐蚀NG本压ITO腐蚀ACF1.ACF贴附不可有汽泡、皱折、贴附贴尺寸须附合量产规格表要求；附2.ACF贴附后须完全盖住本压端端效子，ACF贴附长度须超出FPC两端果长度为O.lnmLlmmF0G本压导电粒子破裂状况I.有效导电粒子判定要求(与IC导电粒子破裂效果判定一致)；2 .每一个金手指和相应ITO的重叠范围中有效导电颗粒多颗以上；3 .本压后玻璃边缘导电粒子连成直线NG；4 .本压头与IC距离L29.5mmITO腐蚀NG0l-03mm本压头位置离边0.10.3mm导电粒子连成直线(NG)本压偏位状1 .X方向

4、偏移量不可超过ITO或FPC金手指铜箔宽度之1/3；2 .本压偏移未超偏移要求但造成短路NG；3 .作业过程中须以CCD自检对位效果，若发现连续作业3PCS偏移超规格须通知组长前来确认与反馈问题给相关人员处理；鹏I11显微镜金手指偏移NGIILLJX.=:况IlFY方向，I扁I移造力I戈短路NG本压汽泡1 .端子间汽泡未触及导电端子为良品；2 .端子间汽泡触及导电端子但未覆盖1/2电极端子长且汽泡以外电极端子上有效导电粒子颗数26颗为良IIIB*IIlII显微镜品，反之NG；T。间茨i泡OKFFPC金手指1. FPC金手指刮伤面积W1/2该金手指面积且未刮伤部位有效导电粒子破裂颗数26颗为良品

5、；2. FPC金手指刮伤面积1/2该金手0N髭微错PC刮伤指面积或未刮伤部位有效导电粒子破裂颗数6颗为不良品；OKP峪OK况本压ITO刮伤1. FPC本压区ITO刮断后，ITO有效长度21/2且FPC金手指与ITOh有效导电粒子26颗为0K,反之为NG；2. ITO未刮断且未超过1/2宽度为OK,ITO未刮断但超出1/2宽度，要工程确认；OKi彳JGSOK显微镜任何位置ITO腐蚀不可有NG；ITO腐蚀微镜本压异物1 .导电端子下端有异物但W1/3金手指和相应ITO的重合面积且有效导电粒子26颗为良品；2 .异物在导电端子之间且将两电极连接在一起NG,反之为0K；J-QOKNG微镜备注：1 .COG本压效果检查需对IC四个角及中心位置共五个点进行检查与判断；2 .有返修IC/FPC产品，须以金相检验压着效果及ITo状况判断产品；