IC 类检验指导书.docx

上传人:王** 文档编号:205123 上传时间:2023-04-15 格式:DOCX 页数:3 大小:27.46KB
下载 相关 举报
IC 类检验指导书.docx_第1页
第1页 / 共3页
IC 类检验指导书.docx_第2页
第2页 / 共3页
IC 类检验指导书.docx_第3页
第3页 / 共3页
亲,该文档总共3页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述

《IC 类检验指导书.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《IC 类检验指导书.docx(3页珍藏版)》请在优知文库上搜索。

1、检验指导书机型适用于通用产品工序时间无工序名称IC类检验工序编号无测试工具/仪器:卷尺/卡尺/万用表/高压测试仪/绝缘电阻测试仪/电桥/各类测试架等。检验员IQC图示:无图检验步骤及内容一、看(LOok)1、看表面的丝印(烙印)型号是否与所定器件型号一致。主要包括品牌标志、首码、器件功能序号、尾码、特殊标示品牌标志:大部分器件品牌标志,少部分没有的。(举例略)首码:代表半导体厂商。(举例略)器件功能序号:描述同系列器件的功能特性。通用器件的诸多厂家,其器件功能序号相当部分相同,但也有不同的。举例:8870LM317IMP813MAX813MAX232SPX232尾码:描述器件的工作电压、温度范

2、围、封装类型、速度等工作电压(输出电压正常工作电压的范围。DS1230AB-100、DS1230Y-10011O8XE11F04XE11F16XE11F6OXELTl117-5./3.3LMl117-5/3.温度范围:级别为:商业级:(TC70工业级:-40C-85C汽车级:-40C-125C军工级:-55。125/150封装类型:DIP(PDlP、CDlP)PLCC、QFP、TQFP、SOP、SSOPTSSOP.TO-92、TO-220TO-263、To-223、TO-23、CLCC速度:描述资料存取的快慢IS62C256-507090XC95144AT89C51-12/16/20/24特殊

3、标示:如表门槛电压IMP706生产批号0451,出厂编号、批次等以上,准确的资讯需参照其PDF资料,方能更准确。2、看器件丝印(烙印)整齐程度、表面的光泽情况、管脚氧化程度。丝印(烙印)品质的好坏与丝印材料、丝印机器的精度有关。原厂器件的丝印品质很好,但也有部分比较差的。如国半01+的部分器件面的光泽:从不同角度(垂直正视、斜视、平视)看器件表面是否均匀平滑、有无划伤痕迹。也可借助高倍放大镜看。决大多数器件管脚镀了一层氧化膜,但也有器件未明显镀氧化膜,如Tl公司的74系列DlP封装的逻辑器件。3、看器件背面的标记,这些标记一般是凸起的字样。有些器件背面标记“CFD”等,代表生产的批次。有些器件

4、背面标记7Malaysia,uTaiwanU“ThailandMexicoKorea,“China;代表封装所在地,要搞清封装工厂所在地。指定区域,并做好相关记录。注意事项1、物料送检时要及时检验。2新料或新供方上料必须经QE做新料认定试验确认合格后才能检验。3、所照参样板必须为合格样板。修订记录修改次数日期内容参考文件供应商器件确认书、检验规范文件编号编制:日期:版本审核:口期:受控印章批准:日期:检验指导书机型适用于通用产品工序时间无工序名称IC类检验工序编号无测试工具/仪器:卷尺/卡尺/万用表/高压测试仪/绝缘电阻测试仪/电桥/各类测试架等。检验员IQC图示:无图检验步骤及内容二、断(J

5、Udge)1、器件性能的类别判断器件的出现品质的可能性。(1)逻辑电路:74系列、54系列的特性、分类、基本原理及应用。(2)、微处理器:8/16/32位单片机(MCU)和数位讯号处理器(DSP)51系列、AVR高速系列、INTELI96系列、PIC系列、MSP430超低功耗等诸多单片TMS320全系列、ADSP系列、MC系列等DSP。基本的构造及功能、分类与区别、硬体的基本设计、软体(组合语言和C51语言)的初步设计思路及实践、开发工具的使用及程式的调试过程。(3)微处理器的扩展及周边电路的应用:1)记忆体(FLASH、EEPROMSRAM、NVRAM)的区别及基本应用。2)介面电路(RS-

6、232、RS-485422USB、CAN、MODEM、1394口、ISDN)的功能及基本设计。3)显示(LCD、LED、LCM、VFD.EL)及驱动器的区别、原理及基本设计。(4)、PSD及可程式设计逻辑电路:PSD的构造、基本原理及应用,FPGA和CPLD的构造、基本原理及初步设计(硬体设计、VHDL语言的基本设计)(5)、数位转换器ADC、DAC的特性、应用领域、初步的设计:多媒体产品一音讯、视频的部分应用电路简介。(6)、电源及相关产品1)电压稳压、电压基准的特性及应用设计。2)微处理器的电源监控电路:重定电路、WatchdogWatchdog+SRAMo3)电池容量管理及充电电路的设计

7、。4) DC-DC.AC-DC的特性及应用。5) PWM控制器、MOSFET及达林顿管的特性及应用。(7)运放及信号调理器:放大器、比较器、信号调理器的特性及应用。(8)感测器压力感测器、温度感测器、加速度感测器、电流感测器、磁场感测器、湿度感测器、烟雾感测器、霍尔效应感测器等的特性及应用。2、从半导体的厂商的特色来判断器件的优劣。见公司的英文CATALoG(略)注意事项1、物料送检时要及时检验。2新料或新供方上料必须经QE做新料认定试验确认合格后才能检验。3、所照参样板必须为合格样板。修订记录修改次数日期内容参考文件供应商器件确认书、检验规范文件编号编制:日期:版本审核:日期:受控印章批准:

8、日期:检验指导书机型适用于通用产品工序时间无工序名称IC类检验工序编号无测试工具/仪器:卷尺/卡尺/万用表/高压测试仪/绝缘电阻测试仪/电桥/各类测试架等。检验员IQC图不:无图检验步骤及内容三、f(Decap)通过化学处理,解剖开元器件内核,电子拍照分析,得出有效结论.厚膜电路:DS1230ABsDS1249、DS1245四、测(TeSt)按测试方法分:线上测试:测试动态参量离线测试:测试静态参量、测试休眠参量参数测试:测试典型值,直流(DC)参数测试、交流(AC)参数测试按测试工具分:按器件的功能特性,记忆体、Flash的FPGA:LABM8、河洛、Super读一写一读一擦模拟器件:运放、比较器等数位电路:按测试工具厂家分:TektronixTeradyneAndoElectronAduantestMegatest、1ST、ABI、PolarAgilent其他的:做专用测试架五、照(X-Ray)用专用的镭射设备透视晶片内部的距阵结构(略)注意事项1、物料送检时要及时检验。2新料或新供方上料必须经QE做新料认定试验确认合格后才能检验。3、所照参样板必须为合格样板。修订记录修改次数口期内容参考文件供应商器件确认书、检验规范文件编号编制:日期:版本审核:日期:受控印章批准:日期:

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置:首页 > 建筑/环境 > 桩基础

copyright@ 2008-2023 yzwku网站版权所有

经营许可证编号:宁ICP备2022001189号-2

本站为文档C2C交易模式,即用户上传的文档直接被用户下载,本站只是中间服务平台,本站所有文档下载所得的收益归上传人(含作者)所有。装配图网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。若文档所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知装配图网,我们立即给予删除!