基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第1部分通用要求_SJT11845.1-2022.docx

《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第1部分通用要求_SJT11845.1-2022.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第1部分通用要求_SJT11845.1-2022.docx（10页珍藏版）》请在优知文库上搜索。

1、ICS31CCSL04中华人民共和国电子行业标准SJ/T11845.12022基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第1部分：通用要求2022-10-20 发布Reliabilityevaluationmethodsforelectroniccomponentsanddevicesbasedonlow-frequencynoise-Part1：Generalrequirements2023-01-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布前言引言范围规范性引用文件术语和定义IIIIV时域噪声参数频域噪声参夕标准规与感其他噪与加沐流横评价优;评价的声参评价;M参数可靠性评价的噪声参数.4.14

2、.24.34.4可靠性为5.1 频/5.2 时做可靠串6.16.26.36.46.5 年6.6 年用可靠性I报告要求222223333344-3-L.刖BSJ/T11845-2022基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法分为若干部分:第1部分：通用要求；第2部分：光电耦合器件；第3部分：二极管；的第1部分。第4部分：电阻器；本文件是基于低频噪电本文件按照GBZT定起草。,请注意本岁检啰本文件由小：硝 本文件点L院、中国嗡舄TV自涉及专利.本文件的发布机，毁术的电子元器件可靠性无损检测标准:必修F魁簪研究所、我:制燃,：第.然件实验所、深林、张伟、郭爵文件的结构和起草规则的规入伏赛宝工业技术

3、研究I李兆友IIT低频噪声是表征电子元器件质量和可靠性的敏感参数，利用电子元器件的低频噪声特性进行质量和可靠性检验评估的方法在许多领域得到广泛应用，并在提升产品品质方面取得显著成效。我国是电子元器件产品生产和使用大国，基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法标准对于促进低频噪声技术的发展应用和提高电子元器件产品品质具有重要意义。依据电子元器件低频噪声特性，基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法的本文件规定了基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法的通用要求，可以用于电子元器件在生产过程和使用前的产品品质的评价和监控。基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第1部分：通用要求1范围本文

4、件规定了基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法的通用要求，为具体电子元器件可靠性的低频噪声评价方法标准的制定和实施提供指导。本文件适用于在电子元器件生产过程中及使用前对元器件可靠性进行评价，由研制生产企业、用户或其它相应检测机构实施。在对具体电子元器件进行可靠性评价时，需要结合具体电子元器件的特性进行实施，评价方法不限于本文件规定的内容。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注H期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。SJ/T11769电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求

5、3术语和定义SJ/T11769界定的和下列术语和定义适用于本文件。3.1白噪声whitenoise功率谱密度与频率无关的噪声，主要包括热噪声和散粒噪声。3.2热噪声thermalnoise电子元器件内部载流子随机热运动引起的电流或电压涨落。3.3散粒噪声shotnoise电子元器件内部载流子各自独立而随机地通过势垒所引起的电流或电压涨落。3.41/f噪声1/fnoise功率谱密度与频率成反比的噪声,来源于器件内部载流子涨落和迁移率涨落。可反映器件导电沟道、空间电荷区、表面氧化层等内部界面和表面的缺陷。3.5爆裂噪声burstnoise噪声时间序列连续出现随机脉冲状波形，其脉冲幅度通常比其他类型

6、噪声幅度大若干倍的噪声。可反映器件的内表面与界面，及内引线连接界面处存在较大俘获截面的缺陷。4可靠性评价的噪声参数用于电子元器件可靠性评价的噪声参数是反映电子元器件可靠性及其随时间变化的低频噪声敏感参数，包括时域噪声参数、领域噪声参数、标准规定的噪声参数以及其他噪声相关参数。用于电子元器件可靠性评价的噪声参数一般为直接测得的噪声数据，同时必要时需要对噪声测试数据进行归一化、对数化等预处理，以更利于反映元器件可靠性。4.1时域噪声参数4.2频域噪声参数声参数、宽带噪声参数。频段范围内的I感4.3 标;声参眼T参数4.4其他噪5可靠性评价的判据时域噪声参数是电子元器件低频噪声时间序列特性参数,包括

7、噪声电压峰-峰值、噪声电压有效值、 噪声电流峰-峰值、噪声电流有效值等。标准中规定的 系数为窄带噪对于 噪声参数i 声参数等。领域噪声参数是a)窄带噪声第窄带 常见1b)“试方法声参、最-10 HzJ 3-30蹴声声数是可靠性评价判据是可鸵性评可电性评价的噪声参数判据主要包括2种:方的需求进行确定。用于电子元器件 参数判据、时域噪声参数判据。a)b)c)5.1 频域噪声参数与判据除另有规定外，采用1/f噪声参数用于相同型号批次的批量电子元器件的分类评价，包括窄带噪声参数与宽带噪声参数，分类方法如下：设选定的用于可靠性评价的频域噪声参数为。，对同一型号批次的批量电子元器件进行低频噪声测试，得到低

8、频噪声测试数据样本%;统计分析低频噪声测试数据，计算其均值方和标准差的.：统计判据阈值表示为：l=-aw=+(2),和6分别为频域噪声参数统计判据的下限阈值和上限阈值，。、夕为计算统计判据阈值的参数，一般由本文件的其它部分或产品的详细规范进行确定。除另有规定外，般情况下采用所户0.67。5.2 时域噪声参数与判据爆裂噪声参数通常采用时域噪声参数，包括峰-峰值与有效值，分类方法如下：a)时域噪声参数7表示为：=削包(3)Cft(RMS)耳pp为被测电子元器件时域的噪声电压峰峰值或噪声电流峰峰值；En(RMS)为被测电子元甥件时域的噪声电压有效值或噪声电流有效值。对同一型号批次的批量电子元器件进行

9、低频噪声测试，得到低频噪声时域测试数据样本小。除另有规定外，通常需要测试60s时长的噪声时间序列。b)时域噪声参数判据阈值表示为/y若TkNTkh则表示被测器件存在爆裂噪声。除另有规定外，般情况下采用/h=2.6可靠性评价的基本流程及要求6.1 选取可靠性评价的元器件样品选取满足产品通用规范及其详细规范规定的检验合格的电子元器件样品，用于基于低频噪声参数的可靠性评价的。6. 2构建可靠性评价的低频噪声参数集合根据具体电子元器件类型，结合低频噪声表征器件可靠性研究和实践，构建评价器件可靠性的低频噪声参数集令.1范噪声采用频域参数构成1/f噪声参数集合的)(j=l,2.n,n为噪声参数的数量)，爆

10、裂噪声采用时域参数小用于电子元器件可靠性评价的低频噪声参数数量可以选取多个或单个。当选取单个低频噪声参数进行可整性评价时，低频噪声参数集合中只有一个低频噪声参数(n-l)。具体类型电子元器件的可靠性评价低频噪声参数一般在本文件的其它部分或产品的详细规范中进行明确。6.3 测试低频噪声参数按照SJZT11769电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求和本文件体系中具体类型电子元器件低频噪声参数测试方法，针对可靠性评价的1/f噪声参数集合既)中的参数及爆裂噪声参数小进行电子元器件低频噪声参数测试，获得进行可靠性评价的测试数据。6.4 计算可靠性评价判据按照5.1节和5.2节，计算电子元器件的可靠性评

11、价判据。具体类型电子元器件的可靠性评价判据的计算方法一般在本文件的其他部分或产品的详细规范中进行明确。6.5基于频域噪声参数判据的可靠性评价相同型号批次的批量电子元器件频域噪声测试数据样本为物,根据5.1计算的统计判据l和h,可靠性评价为：Uf噪声小：1l,该元器件的可靠性较高；1/f噪声较小：l1h,该元器件的可靠性一般；Uf噪声较大：jh,该元器件的可靠性较低。6.6基于时域噪声参数判据的可靠性评价相同型号批次的批量电子元器件时域噪声参数数据样本为中，根据5.2确定的定值判据/h，可靠性评价为：无爆裂噪声：i有爆裂噪声：小2JZYi卜：窈的电丹存在爆裂a, mi级器聿国元器件内部缺映了元器件P少;，多。、批次、数量、研制单位等产品信息;器；顼噪声测试参数、测试条件及数据;电子，匕 电子容川 电子元 电子元器件 电子元器件可7可靠性噪声分按照6.5可靠性a)Ib)c)映了元器件内讲能8报告基于他1)b)c)d)e)f)