传感器应用技术实操练习四:应变片的温度影响测试.docx

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实操练习四:应变片的温度影响测试一、测试目的:了解温度对应变片测试系统的影响。二、基本原理:电阻应变片的温度影响,主要来自两个方面。敏感栅丝的温度系数,应变栅的线膨胀系数与弹性体(或被测试件)的线膨胀系数不一致会产生附加应变。因此当温度变化时,在被测体受力状态不变时,输出会有变化。三、需用器件与单元:主机箱中2V10V(步进可调)直流稳压电源、15V直流稳压电源、电压表:应变传感器实验模板、托盘、硅码、加热器(在实验模板上,已粘贴在应变传感器左下角底部)。四、测试步骤:1、按照全桥特性测试操作。2、将20Og祛码放在托盘上,在数显表上读取记录电压值Uol。3、将主机箱中直流稳压电源+5V、_L接于模板的加热器+5V、_1插孔上,数分钟后待数显表电压显示基本稳定后,记下读数Uot,UoLUol即为温度变化的影响。计算这一温度变化产生的相对误差:U-UU=ololX100%测试完毕,关闭电源。

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